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AFM-in-SEM

更新時間:2023-08-11

產品型號:

簡要描述:AFM-in-SEM LiteScop 是一種特殊的原子力顯微鏡 (AFM),“即插即用“,專為集成到掃描電子顯微鏡 (SEMs) 中而設計。
新穎的探針和電子顯微鏡關聯(CPEM) 技術可實現納米級精確的快速 AFM 和 SEM 數據關聯。

  • 廠家實力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

品牌其他品牌產地類別進口
應用領域化工,生物產業,地礦,能源,航空航天

LiteScop 是一種特殊的原子力顯微鏡 (AFM),"即插即用",專為集成到掃描電子顯微鏡 (SEMs) 中而設計。

新穎的探針和電子顯微鏡關聯(CPEM) 技術可實現納米級精確的快速 AFM 和 SEM 數據關聯。

• 快速、即插即用地集成到 SEM 中

• 兼容FIB、GIS、EDX等標準 SEM 附件

• 高度可定制

• 也可用作獨立的原子力顯微鏡

 

關鍵技術優勢

1、復合且相關的樣品分析

關鍵的 CPEM 技術可以同時采集 AFM 和 SEM 通道并將它們無縫關聯到 3D圖像中。

2、原位樣品表征

SEM 內部的原位條件可確保在相同時間、相同地點和相同條件下進行樣品分析。

3、精確定位感興趣區域

極其精確和省時的方法使用 SEM 將 AFM 針尖導航到感興趣的區域,從而實現快速和輕松的定位。

 

 

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