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在發展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學的管理促進企業迅速發展透射電鏡是一種高分辨率、高放大倍數的顯微鏡,是材料科學研究的重要手段,能提供極微細材料的組織結構、晶體結構和化學成分等方面的信息。透射電鏡的分辨率為0.1~0.2nm,放大倍數為幾萬~幾十萬倍。透射電鏡由電子光學系統、真空系統和電子學系統三大部分組成。透射電鏡制樣流程:組織取材(60s內),體積1、前固定:3%戊二醛2h或過夜。2、漂洗:磷酸緩沖液,3次,10min/次。3、后固定:1%鋨酸固定液,2h。4、漂洗:(同上)。5、梯度脫水:50%丙酮,70%丙酮,80%丙酮,9...
查看詳情原位加熱加電樣TKD品臺可以讓用戶在掃描電子顯微鏡(SEM)或聚焦離子束(FIB)內進行原位加熱和/或電學實驗。特別是對于TEM用戶,該平臺允許用戶在SEM內進行相對快速的初步原位樣品表征,以便為進一步的TEM實驗開發工作流程,從而節省寶貴的TEM時間,提高高效的解決方案。技術參數:1.*電極數:8電極(可同時加熱和加電)2.*金屬加熱絲,非陶瓷材料,升溫降溫速度快,即是熱導材料,又是熱敏材料,其電阻與溫度有良好的線性關系。金屬加熱絲是被SiN包裹,不與樣品發生反應。3.*溫...
查看詳情原位加熱樣品臺由樣品臺,控制器,源表以及計算機軟件程序等構成。多路電子測量可以消除接觸電阻的影響,良好的電學屏蔽可以降低環境噪聲。使得同時加熱條件下的電學測量得以實現。產品提供數字化,自動化管理程序使得實驗操控變得十分容易。該儀器將在固態電池、功能氧化物、半導體材料以及相變等研究領域中廣泛應用。原位加熱樣品臺上的芯片可外接力學控制器,可動態實時觀察樣品材料微結構的變化。通過實時獲取的載荷、形變等數據,以及透射電子顯微鏡所提供的材料微結構變化數據,實現了定量分析材料的微觀力學性...
查看詳情恩斯特·阿貝最開始指出,對物體細節的分辨率受到用于成像的光波波長的限制,因此使用光學顯微鏡僅能對微米級的結構進行放大觀察。通過使用由奧古斯特·柯勒和莫里茨·馮·羅爾研制的紫外光顯微鏡,可以將極限分辨率提升約一倍。然而,由于常用的玻璃會吸收紫外線,這種方法需要更昂貴的石英光學元件。當時人們認為由于光學波長的限制,無法得到亞微米分辨率的圖像。1858年,尤利烏斯·普呂克認識到可以通過使用磁場來使陰極射線彎曲。這個效應早在1897年就由曾經被費迪南德·布勞恩用來制造一種被稱為陰極射...
查看詳情透射電鏡是一種綜合性大型分析儀器,在現代科學技術的研究開發工作中被廣泛地使用。由于透射電鏡能觀察的樣品必須很薄(60~70nm),所以透射電鏡的樣品準備要求很嚴格,方法也很單一。一般有以下兩種方法:一、負染色技術負染色技術簡單快速,可以顯示生物大分子、細菌、分離的細胞器以及蛋白晶體等樣品的形態、結構、大小以及表面結構的特征。尤其在病毒學中,負染色技術有著廣泛的應用。樣品要求:①透射電鏡樣品懸液的純度不要求很純,但是如果雜質太多,如大量的細胞碎片,培養基殘渣,糖類以及各種鹽類結...
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